Новый метод микроскопии для быстрой и надежной трехмерной визуализации криволинейных наноструктур
Лаборатории Сесиль Хеберт и Паскаля Фуа из EPFL разработали метод электронной микроскопии, позволяющий получать трехмерные изображения сложных криволинейных структур без необходимости наклонять образец. Метод, разработанный исследователем EPFL Эмадом Овейзи, основан на разновидности ПЭМ, называемой сканирующим ПЭМ (STEM), когда сфокусированный пучок электронов сканирует образец. …
